400G与800G光模块一体化测试解决方案
高集成度光模块测试一体机 - NRZ Only 系列(低阶版本)
►, 专用于10G/25G/100G光模块的调试,测试,验证与分析。
►, 集成化硬件,集成化GUI,灵敏度测试一站式解决测试系统。
►, 免RF测试线缆及传统模块测试基板
►, 更精简,更经济,更便捷,更高效。
►, 插卡式设计,即插即测。
►, 适合高速光模块的大规模量产测试。
主要组成部分
1. 光模块测试主机 MDTR-9XXXA
-- 单槽位:八发八收
-- 双槽位:十六发十六收
-- 高度整合误码仪主机
-- 每通道速率:9.953Gb/s~ 32Gb/s
2. 模块插卡(两种可选)
A. MHB_5016Q,可同时测量2个QSFP+/QSFP28模块
B. MHB_5015,可同时测量4个SFP+/SFP28模块
单槽位光模块测试一体机
配套 QSFP28x2插卡板
单槽位光模块测试一体机
配套 SFP28x4插卡板
高集成度光模块测试一体机 - NRZ & PAM4 系列(高阶版本)
►, 专用于25G/100G/400G光模块的调试,测试,验证与分析。
►, 集成化硬件,集成化GUI,灵敏度测试一站式解决测试系统。
►, 免RF测试线缆及传统模块测试基板
►, 更精简,更经济,更便捷,更高效。
►, 插卡式设计,即插即测。
►, 适合高速光模块的大规模量产测试。
主要组成部分
1. 光模块测试主机 MDTR-9XXXA
-- 单槽位:八发八收
-- 双槽位:十六发十六收
-- 高度整合误码仪主机
-- 每通道速率:25Gb/s~ 56Gb/s
2. 模块插卡(两种可选)
A. MHB_5216Q,可同时测量2个QSFP28模块
B. MHB_5215,可同时测量4个SFP28模块
C. MHB_5217DD,同时测量1个QSFP DD模块
双槽位光模块测试一体机
产品特点
主机特点:
八收八发/十六发十六收误码仪
1. 标准速率可调:
NRZ Only:9.953Gb/s~32Gb/s
NRZ&PAM4:25Gb/s~56Gb/s
2. 兼容10G,25G,4x10G,4x25G,400G 高速光模块测试
3. 兼容单模,多模
4. 带两路时钟同步输出,用于连接示波器,测试模块光眼图参数
5. NRZ标准PRBS码型:7,9,15,23,31
6. 支持数据输出极性反转
模块插卡模块插卡(三种可选):
1. MHB_5X16Q:
可同时测量2个QSFP+/QSFP28模块
2. MHB_5X15:
可同时测量4个SFP+/SFP28模块
3. MHB_5217DD:
可同时测量1个QSFP DD模块
其他特点:
三种升降温方案可选:
1. 常温测试,无升降温
2. TEC升降温 (0~85°C)
3. 外接整套热流仪机构,我们可提供完整的测试解决方案
TEC升降温的解决方案等同于误码仪+热流仪。
产品优势
1.超小型高度集成误码仪
2.高速光模块测试专用
3.适合高速光模块的大规模量产测试
4.无需外接大量成对RF射频线
5.无需外接测试基板
6.即插即测,操作便捷
7.硬件,软件高度集成,测试一站式解决
8.扩线容易,成本更低,单元测试密度更大
9.内置电源板卡,无需额外稳压源
光模块测试一体机系统
传统误码仪测试系统
VS.
整体测试解决方案 For QSFP28 LR4
测试系统设备清单
常见问题与解答
Q1:TEC升降温时间需要多久?
A:室温升至85°C,大约需要1分钟左右;室温降至0°C,需要时长小于2分钟。
Q2:TEC升降温范围?
A:0-85°C,为不影响TEC使用寿命,建议在使用时不低于0°C。
Q3:模块温度和机壳温度是否可测?
A:可以测量,机身内置热敏电阻,可通过程控测量实时模块和机壳温度。
Q4:插卡使用次数/寿命?
A:标准测试可拔插次数约为300次,在实际应用中可插拔次数约为500次。
Q5:插卡坏了如何维修?
A:插卡上模块座都是相互独立的,如果是座子坏了,只需更换模块座即可;如果是插卡损坏,则需更换整块测试插卡。
Q6:如何使用Golden Sample模块?
A:方案1、使用光纤连接待测模块(DUT)和Golden Sample,两个模块插在同一插卡中通过程控进行测试。
方案2、两个模块(DUT和Golden Sample)分别插入两个模块一体机中对测。