高集成度光模块测试一体机 - NRZ Only 系列（低阶版本）

 ►, 专用于10G/25G/100G光模块的调试，测试，验证与分析。

 ►, 集成化硬件，集成化GUI，灵敏度测试一站式解决测试系统。

 ►, 免RF测试线缆及传统模块测试基板

 ►, 更精简，更经济，更便捷，更高效。
 ►, 插卡式设计，即插即测。

 ►, 适合高速光模块的大规模量产测试。

主要组成部分

1. 光模块测试主机 MDTR-9XXXA

   -- 单槽位：八发八收

   -- 双槽位：十六发十六收

   -- 高度整合误码仪主机

   -- 每通道速率：9.953Gb/s~ 32Gb/s

2.  模块插卡（两种可选）

   A. MHB_5016Q，可同时测量2个QSFP+/QSFP28模块
   B. MHB_5015，可同时测量4个SFP+/SFP28模块

单槽位光模块测试一体机

配套 QSFP28x2插卡板

单槽位光模块测试一体机

配套 SFP28x4插卡板

高集成度光模块测试一体机 - NRZ & PAM4 系列（高阶版本）

 ►, 专用于25G/100G/400G光模块的调试，测试，验证与分析。

 ►, 集成化硬件，集成化GUI，灵敏度测试一站式解决测试系统。

 ►, 免RF测试线缆及传统模块测试基板

 ►, 更精简，更经济，更便捷，更高效。
 ►, 插卡式设计，即插即测。

 ►, 适合高速光模块的大规模量产测试。

主要组成部分

1. 光模块测试主机 MDTR-9XXXA

   -- 单槽位：八发八收

   -- 双槽位：十六发十六收

   -- 高度整合误码仪主机

   -- 每通道速率：25Gb/s~ 56Gb/s

2.  模块插卡（两种可选）

   A. MHB_5216Q，可同时测量2个QSFP28模块
   B. MHB_5215，可同时测量4个SFP28模块
   C. MHB_5217DD，同时测量1个QSFP DD模块

双槽位光模块测试一体机

产品特点

主机特点：

八收八发/十六发十六收误码仪

1. 标准速率可调：

    NRZ Only：9.953Gb/s~32Gb/s

    NRZ&PAM4：25Gb/s~56Gb/s

2. 兼容10G,25G,4x10G,4x25G，400G 高速光模块测试

3. 兼容单模，多模

4. 带两路时钟同步输出，用于连接示波器，测试模块光眼图参数

5. NRZ标准PRBS码型：7，9，15，23，31

6. 支持数据输出极性反转

模块插卡模块插卡（三种可选）：

1. MHB_5X16Q：

   可同时测量2个QSFP+/QSFP28模块

2. MHB_5X15：

   可同时测量4个SFP+/SFP28模块

3. MHB_5217DD：

   可同时测量1个QSFP DD模块

其他特点：

三种升降温方案可选：

1. 常温测试，无升降温

2. TEC升降温 （0~85°C）

3. 外接整套热流仪机构，我们可提供完整的测试解决方案

TEC升降温的解决方案等同于误码仪+热流仪。

产品优势

1.超小型高度集成误码仪
2.高速光模块测试专用
3.适合高速光模块的大规模量产测试
4.无需外接大量成对RF射频线
5.无需外接测试基板
6.即插即测，操作便捷
7.硬件，软件高度集成，测试一站式解决
8.扩线容易，成本更低，单元测试密度更大
9.内置电源板卡，无需额外稳压源

光模块测试一体机系统

传统误码仪测试系统

VS.

整体测试解决方案 For QSFP28 LR4

测试系统设备清单

常见问题与解答

Q1:TEC升降温时间需要多久？
A:室温升至85°C，大约需要1分钟左右；室温降至0°C，需要时长小于2分钟。

Q2:TEC升降温范围？
A:0-85°C，为不影响TEC使用寿命，建议在使用时不低于0°C。

Q3:模块温度和机壳温度是否可测？
A:可以测量，机身内置热敏电阻，可通过程控测量实时模块和机壳温度。

Q4:插卡使用次数/寿命？
A:标准测试可拔插次数约为300次，在实际应用中可插拔次数约为500次。

Q5:插卡坏了如何维修？
A:插卡上模块座都是相互独立的，如果是座子坏了，只需更换模块座即可；如果是插卡损坏，则需更换整块测试插卡。

Q6:如何使用Golden Sample模块？
A:方案1、使用光纤连接待测模块（DUT)和Golden Sample，两个模块插在同一插卡中通过程控进行测试。
    方案2、两个模块（DUT和Golden Sample）分别插入两个模块一体机中对测。