PAM4系列集成式光模块测试系统

产品特征： ● 专用于25G/100G/400G光模块的调试、测试、验证与分析； ● 集成化硬件，集成化GUI，灵敏度测试一站式解决测试系统； ● 免RF测试线缆及传统模块测试基板； ● 插卡式设计，即插即测； ● 更精简，更经济，更便捷，更高效； ● 适合高速光模块的大规模量产测试。

主要组成部分：

1，高度整合误码仪主机，4路并行的25.78125/26.5625Gbaud PAM4及25.78125/26.5625Gbps NRZ模块测试

     单槽位：八发八收

     双槽位：十六发十六收

2，模块插卡：

    ① SFP28模块插卡，可同时测试4个SFP28光模块

    ② QSFP28模块插卡，可同时测试2个QSFP28光模块，兼容4x25G，4x56G，4x100G可选

    ③ QSFP DD模块插卡，可同时测试1个QSFP DD光模块，兼容8x25G，8x56G，8x100G可选

    ④ CFP2 模块插卡，可同时测试1个CFP2光模块，兼容4X25G，8X25G，4X56G，8X56G，4X100G，8X100G可选

    ⑤ SFP56模块插卡，可同时测试4个SFP56光模块

    ⑥ SFP DD模块插卡，可同时测试4个SFP DD光模块

    ⑦ OSFP 模块插卡，可同时测试1个OSFP DD光模块，兼容8X25G，8X56G，8X100G可选

3，升降温模组（选件）：

    ①TEC升降温方案（0~85℃）

    ②外接整套热流仪机构

主要特点：

√，每个卡槽设八条独立通道

√，测试速率：25.78125/26.5625Gbaud PAM4 及 25.78125/26.5625Gbps NRZ

√，8个输出各自独立的电压调整，参看发生器输出表格

√，支持所有的工业 PRBS码型:

      — Supports PRBS7/9/11/13/15/16/23/31/58, their inverse and PRBS13Q

      — PRBS can be generated independently on PAM-4 MSBs and LSBs

      — SSPRQ Support

      — 2 x 64 bit programmable-repeatable fixed pattern

      — Square wave, JP03A, JP03B, transmitter linearity test patterns

      — CID jitter tolerance pattern

√，集成的时钟恢复

√，支持极性反转

√，支持电压拉偏

√，支持输出幅度、预加重和均衡调节

√，高信号质量，快速的上升沿以及低的固有抖动

√，误码仪可以完全被编程，支持通过其他软件例如LabView, C#, VEE调用外部API

√，支持搭配热流仪或TEC进行温循测试

√，通过外部Windows7/8/10电脑上的用户软件来控制，PC通过网口来连接

√，支持DDM信息查询和写入

√，每个模块槽位都预留感温电阻，用户可监控、读取模块温度

√，可以单独对每个模块供电电压做ON/OFF控制

√，Socket支持插拔次数统计

√，FEC相关：

      — 协议为 KP4 TX & RX;

      — 支持FEC余量测试；

      — FEC误码分布；

      — Symbol error rate；

      — Post-fec error rate；

      — Pre-fec error rate